저주파 파형으로 2차원 물질 물성 밝혀- 이황화몰리브덴의 n형 반도체 성질, 원자결함에 갖힌 전자가 원인

저주파 파형으로 2차원 물질 물성 밝혀- 이황화몰리브덴의 n형 반도체 성질, 원자결함에 갖힌 전자가 원인

 

보도일 2017-12-21 12:00 연구단명나노구조물리 연구단

 

 

 

저주파 파형으로 2차원 물질 물성 밝혀
- 이황화몰리브덴의 n형 반도체 성질, 원자결함에 갖힌 전자가 원인 -

  과학기술정보통신부 산하 기초과학연구원(IBS, 원장 김두철) 나노구조물리 연구단(단장 이영희) 연구진은 전도성원자력현미경(Conductive Atomic Force Microscope, 이하 CAFM) 피라미드모양의 뾰족한 탐침이 시료 표면에 닿으면서 2차원으로 주사하는 현미경. 탐침과 시료 사이의 척력으로 시료 표면의 요철에 따라 탐침이 붙은 용수철이 상하로 이동한다. 이 동작을 컴퓨터로 그려여 시료 표면의 요철을 가시화상으로 재현한다. 탐침이 전도성을 가지는 경우, 시료의 전기적 특성을 동시에 분석할 수 있다.
에 전류증폭기를 연결해 2차원 이황화몰리브덴(MoS2) 전이금속인 몰리브데늄(Mo) 원자에 주기율표상 산소와 같은 족에 속하는 황(S) 두 개가 결합하여 2차원 평면을 이루고 있는 2차원 물질이다. 단일층 MoS2는 반도체 특성을 보이며, 전자소자 및 광전자 소자에 응용 가능성이 매우 높은 신소재로 알려져 있다.
의 원자결함 2차원 이황화몰리브덴은 몰리브데늄(Mo) 원자 1개와 황(S) 원자 2개가 짝을 지어 규칙적으로 나열된 평면구조를 이룬다. 실물 상태의 2차원 이황화몰리브덴은 대부분 황 원자가 드문드문 하나씩 빠진 ‘원자결함’을 보인다.
과 관련한 전기적 특성을 밝혔다. CAFM이 만든 미세 전류의 저주파 파형을 읽어, 2차원 이황화몰리브덴이 반도체적 특성을 갖는 이유를 찾아냈다.
  재료나 소자에 흐른 전류가 만든 ‘저주파(1Hz ~ 5kHz)’는 재료의 파괴 없이도 내부 결함을 찾는 일종의 ‘나침반’이 된다.
  CAFM은 원래 시료의 전도도를 측정하는 장비이다. 지름이 수십 나노미터(nm, 10억분의 1m)인 탐침으로 시료에 전류를 흘린 뒤, 전류의 크기로 전도도를 측정한다. 연구진은 전류증폭기를 사용해 CAFM이 만들어 내는 전류의 저주파 파형을 확대해 미세전류까지 측정이 가능하도록 고안했다.
  같은 시료에 가해진 동일한 크기의 전류라도 내부결함에 의해 결과값이 미세하게 달라진다. 전류가 흐를 때 원자결함 내에 전자 1~2개가 갇히거나, 기존에 갇혀있던 전자가 나와 수 피코암페어(pA, 1조분의 1A) 수준의 극미세 전류차를 발생시키기 때문이다. 결국 저주파 파형을 해석하면 전자와 원자결함간의 관계를 분석할 수 있다.
  연구진은 실리콘을 대체할 차세대 전자소재로 꼽히는 2차원 이황화몰리브덴을 시료로 사용했다. 전자와 원자결함을 분석해 시료 내부의 황(S) 원자결함에 전자 1개가 들어가야 안정한 상태로 존재한다는 것을 밝혔다. 이로써 2차원 이황화몰리브덴이 n형 반도체성 반도체의 전기 전도현상을 지배하는 주된 운반체가 전자(electron)인 반도체를 n형 반도체, 정공(hole)인 반도체를 p형 반도체라 한다.
을 보이는 성향이 규명되었다.
  이번에 고안한 방법은 앞으로 다양한 저차원 전자소재의 전자-결함 관계를 이해하는데 유용하게 이용될 것이다. 나아가 원인이 밝혀지지 않은 재료의 특성을 이해하는 데 기여할 것으로 보인다.
  이번 연구는 재료과학자, 원자력현미경 전문가, 노이즈 분석 전문가의 공동연구로 한 장소에서 연구원간 공동연구를 장려하는 IBS의 독특한 연구 환경이 빚어낸 결과이다. 이영희 연구단장은 “이번 연구성과를 활용해 나노미터 크기의 영역에서 2차원 표면의 결함을 찾고자 한다”며 새로운 노이즈 분광법 장치를 개발하는 후속연구를 진행 중이라고 밝혔다.
  IBS　나노구조물리 연구단  송승현, 주민규 연구위원과 마이클 노이만 연구교수가 공동제1저자로 수행한 이번 연구는 12월 14일 국제학술지 네이처 커뮤니케이션즈(Nature Communications, IF 12.124)에 게재됐다.

[붙임] 1. 연구 추가설명  2. 그림설명  3. 연구진 이력사항

연구 추가설명

논문명
Probing defect dynamics in monolayer MoS2 via noise nanospectroscopy (Nature Communications)
저자정보
송승현, 주민규, Michael Neumann, 김 현, 이영희*
연구내용
보충설명
■ 이번 연구 결과가 있기 전에는 2차원 이황화 몰리브덴에 전기적 특성의 한계와 황(S) 원자결함의 관계가 밝혀지지 않았다.
■ 전도성원자력현미경과 저주파 파형 측정으로 황(S) 원자결함과 전하 간의 관계를 알아낼 수 있을 것이라고 생각했다.
기타사항
[연구 배경] 2차원 물질이 전자소자나 광전소자의 차세대 소재로 각광받고 있다. 만약 양산으로 이어지려면 소재가 가진 단점들이 보완돼야한다. 하지만 연구자들은 아직 그 특성을 정확히 파악하지 못한 실정이다. 

[어려웠던 점] 전도성원자력현미경으로 저주파 파형을 측정해 황(S) 원자결함과 전하 간의 거동현상을 밝혀내려면 깨끗한 시료와 외부 잡음 최소화가 중요하다. 또한, 저주파 파형 분석을 바탕으로 황(S) 원자결함의 전기적 특성과 소재 성질에 미치는 영향을 분석하려면 이론적인 이해가 필요하다. 이런 연구를 하기 위해서는 원자력현미경 전문가, MoS2 결함에 대한 재료 연구자, 잡음 연구 전문가가 필요했으며 결국 세 분야의 연구자가 함께 긴밀한 공동연구를 수행해야 했다. 이런 연구는 공동연구를 장려하는 IBS의 연구 환경이기에 가능하다.

[성과 차별점] 이번 실험으로 시료 내부의 황(S) 원자결함이 전자 1개를 가져야 안정한 상태로 존재한다는 것이 밝혀졌다. 이로써 2차원 이황화 몰리브덴이 n형 반도체성을 보이는 이유가 규명되었다.

[향후 연구계획] 이황화몰리브덴 이외에도 2차원 물질의 전자-결함 사이의 거동 측정 및 결함의 이온화 특성을 알아내 2차원 물질 특성을 향상 시키는 것에 기여하고 싶다.

그   림   설   명

[그림 1] 2차원 이황화몰리브덴과 전자 흐름 모식도. 2차원 이황화몰리브덴의 저주파 파형은 전자가 원자결함에 갇히거나 이탈하는 과정에서 일어난다.

[그림 2] 2차원 이황화몰리브덴의 전자-결함 거동 분석 실험. 전도성 원자력 현미경(CAFM, Conductive Atomic Force Microscope)으로 발생한 저주파 파형을 전류증폭기로 측정해 2차원 이황화몰리브덴에서 일어나는 전자와 황(S) 원자결함(sulfur monovacancy defect) 사이의 관계를 측정했다.

< 이영희 IBS 나노구조물리 연구단 연구단장, 교신저자 >

1. 인적사항
 ○ 소    속 : 기초과학연구원(IBS) 나노구조물리 연구단    성균관대학교 물리학과, 에너지과학과 교수
 

 
2. 경력사항 
 1989 - 1990 미국 에임스 국립 연구소, 방문연구원
 1993 - 1993 스위스 취리히 IBM 연구소, 방문연구원
 1996 - 1997 미국 미시간 주립대학교, 객원연구원
 1987 - 2001 전북대학교 물리학과, 전임강사 - 교수
 2001 - 현 재 성균관대학교 물리학과(학부), 교수
 2008 - 현 재 성균관대학교 에너지과학과, 교수
 2012 - 현 재 IBS 나노구조물리 연구단 단장

3. 전문 분야 정보
 2005 한국물리학회 학술상 수상
 2005 교육인적자원부 국가석학 선정
 2006 과기부 되고 싶고 닮고 싶은 과학기술자 선정
 2009 대통령 표창
 2014 삼양사 수당재단 제23회 수당상 수상(기초과학부문)
 2017 Einstein Award, Chinese Academy of Sciences

< 송승현 IBS 나노구조물리 연구단 연구위원, 공동 제1저자>

1. 인적사항
 ○ 소    속 : 기초과학연구원(IBS) 나노구조물리 연구단    성균관대학교
 

 
2. 경력사항 
 2009 - 2014 연구 조교, 퍼듀대학교
 2014 - 현 재 IBS 나노구조물리 연구단 박사후연구원

3. 전문 분야 정보
 2D van der Waals materials and related physics
2D vdW heterostructure for optoelectronic applications

< 주민규 IBS 나노구조물리 연구단 연구위원, 공동 제1저자 >

1. 인적사항
 ○ 소    속 : 기초과학연구원(IBS) 나노구조물리 연구단    성균관대학교
 

 
2. 경력사항 
 2013 - SK Hynix 인턴
 2015 - 현 재 IBS 나노구조물리 연구단 박사후연구원

3. 전문 분야 정보
 2D van der Waals materials for high performance electronics
 Low-frequency noise analysis for low-dimensional materials
 2014 - 우수논문상 SK Hynix
 2016 - 나노구조물리단 Director's prize

<마이클 노이만 IBS 나노구조물리 연구단 연구교수, 공동 제1저자 >

1. 인적사항
 ○ 소    속 : 기초과학연구원(IBS) 나노구조물리 연구단    성균관대학교 연구교수
 

 
2. 경력사항 
 2008 - 2009 영국 Royal Holloway, University of London, 박사후연구원
 2009 - 2013 미국 Stanford University, 박사후연구원
 2013 - 2015 서울대학교, IBS 강상관계 물질 연구단, 박사후연구원
 2015 - 현 재 성균관대학교, IBS 나노구조물리 연구단 연구교수

3. 전문 분야 정보
 2D van der Waals materials (focus on defects and chemically reactive  materials)