대면적 그래핀 고속 검사 기술 개발-무결점 그래핀 전사 프로토콜 개발을 위한 필수 분석법 등록일 2020.09.28. 대면적 그래핀 고속 검사 기술 개발 무결점 그래핀 전사 프로토콜 개발을 위한 필수 분석법 □ 그래핀 표면의 결함을 500만 화소의 카메라로 수 초 내 살펴볼 수 있는 고속 품질검사 방법이 제시되었다. ※ 그래핀(Graphene) : 탄소원자 한 층으로 된 얇은 막. 전기전도성, 열전도성, 투명성 등이 우수하다 ○ 한국연구재단(이사장 노정혜)은 손형빈 교수(중앙대학교 융합공학과) 연구팀이 전사된 대면적 그래핀의 결함 및 잔류물들을 고속(수 초 내) 으로 평가할 수 있는 광학기법을 개발했다고 밝혔다. □ 촉매(구리) 기판에서 부도체 기판으로 그래핀을 전사하는 공정은 트랜지스터, 광센서, 바이..